{"id":3196,"date":"2025-04-28T09:56:30","date_gmt":"2025-04-28T07:56:30","guid":{"rendered":"https:\/\/web.infn.it\/TechTransfer\/?post_type=portfolio_page&p=3196"},"modified":"2025-04-28T09:56:30","modified_gmt":"2025-04-28T07:56:30","slug":"circuito-integrato-migliorato-per-pilotaggio-di-link-veloci-in-applicazioni-radiation-hard","status":"publish","type":"portfolio_page","link":"https:\/\/web.infn.it\/TechTransfer\/portfolio_page\/circuito-integrato-migliorato-per-pilotaggio-di-link-veloci-in-applicazioni-radiation-hard\/","title":{"rendered":"Circuito integrato migliorato per pilotaggio di link veloci in applicazioni radiation-hard"},"content":{"rendered":"

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Circuito integrato migliorato per pilotaggio di link veloci in applicazioni radiation-hard<\/h1>\n

[\/vc_column_text][vc_empty_space][\/vc_column][\/vc_row][vc_row css_animation=”” row_type=”row” use_row_as_full_screen_section=”no” type=”full_width” angled_section=”no” text_align=”left” background_image_as_pattern=”without_pattern”][vc_column width=”2\/3″][vc_empty_space][vc_column_text]Oggetto dell\u2019invenzione \u00e8 un circuito integrato migliorato per pilotaggio di link veloci in applicazioni radiation-hard, per applicazioni ad esempio spaziali, nell\u2019ambito della fisica delle alte energie e della medicina nucleare, dove circuiti e sistemi elettronici sono affetti da problemi legati soprattutto a Single Event Effects, o SEE, e da degradazione per Total Ionization Dose, o TID.[\/vc_column_text][vc_empty_space][vc_single_image image=”3197″ img_size=”full” qode_css_animation=””][vc_empty_space][vc_column_text]<\/p>\n

Come funziona?<\/span><\/h3>\n

[\/vc_column_text][vc_empty_space][vc_column_text]I circuiti integrati progettati per applicazioni radiation-hard (o rad-hard) sono soggetti a fenomeni di malfunzionamento e deterioramento delle prestazioni a causa delle interazioni tra le radiazioni e i dispositivi che compongono il circuito. Tali problemi derivano principalmente dagli effetti da singolo evento (Single Event Effects, SEE) e\/o dalla degradazione causata dalla dose totale di ionizzazione (Total Ionizing Dose, TID).<\/p>\n

La tecnologia oggetto del brevetto ha permesso di realizzare un circuito integrato migliorato, capace di mitigare in modo efficiente gli effetti di deterioramento indotti dalle radiazioni, con particolare riferimento a SEE e TID. Inoltre, il circuito integrato sviluppato consente una significativa riduzione dello spazio occupato e del consumo energetico, ed \u00e8 in grado di ripristinare autonomamente la propria funzionalit\u00e0 in caso di degrado delle prestazioni dovuto a SEE o TID.[\/vc_column_text][vc_empty_space][vc_column_text]<\/p>\n

Applicazioni<\/span><\/h3>\n

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