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Detector resistivo al silicio senza distorsione di immagine

Questo disegno permette di evitare le distorsioni nella ricostruzione del punto di impatto della particella incidente tipiche dei rivelatori che usano il metodo di lettura resistiva. L’impiego di resistenze a resistività variabile posizionate tra gli elettrodi di lettura elimina le distorsioni dovute ad una incorretta divisione di carica tra gli elettrodi di lettura e permette di raggiungere un’ottima risoluzione spaziale su tutta la superfice del pixel.

Come funziona?

I rivelatori al silicio di tipo RSD, “resistive silicon detector”, hanno, potenzialmente, un’ottima risoluzione spaziale su tutta la superfice del pixel. Tuttavia, a causa dei meccanismi di divisione di carica tra gli elettrodi, la ricostruzione del punto di impatto è distorta.

Il presente brevetto supera lo stato dell’arte usando delle resistenze a resistività variabile. Questa modifica rende uniforme il processo di divisione di carica ed elimina le distorsioni nella ricostruzione della posizione del punto di impatto.

Applicazioni

  • Tracciatori di particelle per esperimenti di fisica;
  • Rivelatori di raggi X;
  • Immagine mediche.

Vantaggi

  • Ottima risoluzione spaziale su tutta l’area del pixel;
  • Facilità di utilizzo;
  • Assenza di calibrazione.

DETTAGLI AGGIUNTIVI

PROPRIETARI DEL BREVETTO

INFN

NUMERO DI PRIORITÀ

IT 102022000002993

SETTORE TECNOLOGICO

Apparecchiature

CODICE TT

P_21.134

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