Circuito integrato migliorato per pilotaggio di link veloci in applicazioni radiation-hard

Oggetto dell’invenzione è un circuito integrato migliorato per pilotaggio di link veloci in applicazioni radiation-hard, per applicazioni ad esempio spaziali, nell’ambito della fisica delle alte energie e della medicina nucleare, dove circuiti e sistemi elettronici sono affetti da problemi legati soprattutto a Single Event Effects, o SEE, e da degradazione per Total Ionization Dose, o TID.

Come funziona?

I circuiti integrati progettati per applicazioni radiation-hard (o rad-hard) sono soggetti a fenomeni di malfunzionamento e deterioramento delle prestazioni a causa delle interazioni tra le radiazioni e i dispositivi che compongono il circuito. Tali problemi derivano principalmente dagli effetti da singolo evento (Single Event Effects, SEE) e/o dalla degradazione causata dalla dose totale di ionizzazione (Total Ionizing Dose, TID).

La tecnologia oggetto del brevetto ha permesso di realizzare un circuito integrato migliorato, capace di mitigare in modo efficiente gli effetti di deterioramento indotti dalle radiazioni, con particolare riferimento a SEE e TID. Inoltre, il circuito integrato sviluppato consente una significativa riduzione dello spazio occupato e del consumo energetico, ed è in grado di ripristinare autonomamente la propria funzionalità in caso di degrado delle prestazioni dovuto a SEE o TID.

Applicazioni

• Settore spaziale;
• Medicina nucleare;
• Elettronica.

Vantaggi

• Il circuito integrato migliorato è in grado di mitigare gli effetti di deterioramento derivanti da radiazioni che investono il circuito, in particolare sia SEE, sia TID;
• Ha una elevata robustezza;
• Riduzione delle dissipazioni di spazio e/o energia non essenziali;
• Ripristino in automatico della propria funzionalità in caso di blocco dovuto da TID.